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日本Otsuka大塚nanoSAQLA納米粒子徑測試-成都藤田科技提供 MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測量。且無需對焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置。
日本Otsuka大塚MINUK光波動場三次元顯微鏡-成都藤田科技提供 MINUK可評價nｍ級的透明的異物?缺陷，一次拍照即可瞬時獲得深度方向的信息，可非破壞?非接觸?非侵入的進(jìn)行測量。且無需對焦，可在任意的面進(jìn)行高速掃描,輕松決定測量位置。
日本Otsuka大塚Smart膜厚儀光學(xué)分析專家-成都藤田科技提供 側(cè)重便攜性與快速篩查，適用于常規(guī)單層膜厚測量，但精度與功能擴(kuò)展性不及OPTM系列。 OPTM適用于研發(fā)（R&D）與高精度QC，如半導(dǎo)體晶圓、光學(xué)濾光片；Smart膜厚儀更適合產(chǎn)線快速抽檢
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