日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置-成都藤田科技提供
產品信息特點可測從0nm開始的低（殘留）相位差光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.) （相當于世界快速的0.1秒以下來處理）無驅動部，重復再現(xiàn)性高設置的測量項目少，測量簡單...

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更新時間：2025-02-22

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日本大塚Otsuka

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產品介紹

日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置-成都藤田科技提供

產品信息

特點

● 可測從0nm開始的低（殘留）相位差
● 光軸檢出同時可高速測量相位差(Re.)
（相當于快速的0.1秒以下來處理）
● 無驅動部，重復再現(xiàn)性高
● 設置的測量項目少，測量簡單
● 測量波長除了550nm以外，還有各種波長
● Rth測量、方位角測量
（需要option的自動旋轉傾斜治具
● 通過與拉伸試驗機組合，可同時評價膜的偏光特性和光弾性
(本系統(tǒng)屬特注。）

測量項目

● 相位差（ρ[°], Re[nm]）
● 主軸方位角（θ[°]）
● 橢圓率（ε），方位角（γ）
● 三次元折射率（NxNyNz）

用　途

● 位相差膜、偏光膜、橢圓膜、視野角改善膜、各種功能性膜
● 樹脂、玻璃等透明、非均質材料（玻璃有變形，歪曲等）

原　理

● 什么是RE-200
● RE-200是光子結晶素子（偏光素子）、CCD相機構成的偏光計測模塊和透過的偏光光學系相組合，可高速且高精度的測量位相差（相位差）、及主軸方位角。CCD相機1次快門獲取偏光強度模式，沒有偏光子旋轉的機構，系統(tǒng)整體上是屬于小型構造，長時間使用也能維持穩(wěn)定的性能。

日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置
執(zhí)行擬合/傅立葉變換以計算橢圓度 ε 和方位角 γ 。

日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置

產品規(guī)格

型號	RE series
樣品尺寸	最小10 x 10mm ～大100 x 100mm
測量波長	550nm （標準仕樣）※1
相位差測量范圍	約0nm ～約1μm
軸檢出重復精度	0.05°（at 3Σ） ※2
檢出器	偏光計測模塊
測量光斑直徑	2.2mm x 2.2mm
光源	100W 鹵素燈或 LED光源
本體?重量	300(W) x 560(H) x 430（D) mm 、約20kg