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日本大塚Otsuka
日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測(cè)量系統(tǒng)
產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2025-02-22
廠商性質(zhì):代理商
訪問(wèn)量:197
19938139269(馬經(jīng)理)
產(chǎn)品分類
日本Otsuka大塚電子QE-2100量子測(cè)量系統(tǒng)-成都藤田科技提供
量子效率(量子產(chǎn)率)可以瞬時(shí)測(cè)量
可以去除重新激發(fā)的熒光發(fā)射
集成半球單元實(shí)現(xiàn)明亮的光學(xué)系統(tǒng)
使用低雜散光多通道分光光度探測(cè)器大大減少了紫外區(qū)域的雜散光。
溫度控制功能 (50~300°C) 可實(shí)現(xiàn)與溫度相關(guān)的量子效率(量子產(chǎn)率)測(cè)量
兼容紫外到近紅外寬帶 (300~1600nm) 規(guī)格
使用專用軟件輕松作
易于安裝和拆卸樣品測(cè)量池
節(jié)省空間且設(shè)計(jì)緊湊
通過(guò)使用光譜儀型激發(fā)光源,可以選擇任意波長(zhǎng)。
可以在軟件中激發(fā)波長(zhǎng)和步長(zhǎng)值的自動(dòng)測(cè)量
與粉末、溶液、固體(薄膜)和薄膜樣品兼容
廣泛的分析功能
量子效率(量子產(chǎn)率)測(cè)量
激發(fā)波長(zhǎng)依賴性測(cè)量
發(fā)射光譜測(cè)量
PL 激發(fā)光譜測(cè)量
EEM(激發(fā)發(fā)射矩陣)測(cè)量
測(cè)量 LED 和有機(jī) EL 熒光粉的量子效率(量子產(chǎn)率)
測(cè)量薄膜狀樣品
的透射熒光和反射熒光的量子效率(量子產(chǎn)率),例如用于遠(yuǎn)程熒光粉的熒光粉樣品
量子點(diǎn)、熒光探針、生物場(chǎng)、包合物等的熒光測(cè)量
染料敏化太陽(yáng)能電池量子效率(量子產(chǎn)率)的測(cè)量
復(fù)雜化合物的測(cè)定
QE-2100 配備了一個(gè)積分半球。 與積分球(球形)相比,積分半球具有以下特點(diǎn)
由于非發(fā)光部件(支架等)可以暴露在外部,因此可以保持較小的自吸收,從而實(shí)現(xiàn)理想的光學(xué)系統(tǒng)
鏡子在同一點(diǎn)將照度加倍,從而實(shí)現(xiàn)高靈敏度測(cè)量。
樣品測(cè)量池易于安裝和拆卸,損壞積分球內(nèi)部的風(fēng)險(xiǎn)很小。
在包含重激發(fā)熒光發(fā)射的狀態(tài)下,觀察的不是材料本身的物理性質(zhì),而是器件的特性,無(wú)法確定真正的物理性質(zhì)值。 QE-2100 使用重激發(fā)熒光校正,利用積分半球的優(yōu)勢(shì)進(jìn)行簡(jiǎn)單準(zhǔn)確的測(cè)量。
常規(guī)探測(cè)器(多色儀)在紫外區(qū)域檢測(cè)到高水平雜散光,因此不適合測(cè)量量子效率(量子產(chǎn)率)。 大冢電子通過(guò)開(kāi)發(fā)一種去除雜散光的技術(shù)解決了這個(gè)問(wèn)題。 QE-2100 中安裝的多通道分光光度探測(cè)器與我們的傳統(tǒng)產(chǎn)品相比,雜散光量約為 1/5,即使在紫外線區(qū)域也能實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量。
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