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日本大塚Otsuka
膜厚測試儀
日本Otsuka大塚FE-300光譜分析膜厚量測儀
產(chǎn)品型號:
更新時間:2025-02-21
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:162
19938139269(馬經(jīng)理)
產(chǎn)品分類
日本Otsuka大塚FE-300光譜分析膜厚量測儀-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
特殊長度
● 支持從薄膜到厚膜的各種薄膜厚度
● 使用反射光譜分析薄膜厚度
● 實現(xiàn)非接觸、非破壞的高精度測量,同時體積小、價格低
● 簡單的條件設(shè)置和測量操作!任何人都可以輕松測量薄膜厚度
● 通過峰谷法、頻率分析法、非線性最小二乘法、優(yōu)化法等,可以進行多種膜厚測量。
● 非線性最小二乘法薄膜厚度分析算法可以進行光學(xué)常數(shù)分析(n:折射率,k:消光計數(shù))。
測量項目
反射率測量
膜厚分析(10層)
光學(xué)常數(shù)分析(n:折射率,k:消光計數(shù))
測量對象
功能膜、塑料
透明導(dǎo)電膜(ITO、銀納米線)、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合劑、膠粘劑、保護膜、硬涂層、防指紋, 等等。
半導(dǎo)體
化合物半導(dǎo)體、Si、氧化膜、氮化膜、Resist、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、藍寶石等。
表面處理
DLC涂層、防銹劑、防霧劑等。
光學(xué)材料
濾光片、增透膜等。
FPD
LCD(CF、ITO、LC、PI)、OLED(有機膜、封裝材料)等
其他
HDD、磁帶、建筑材料等
測量原理
大冢電子利用光學(xué)干涉儀和自有的高精度分光光度計,實現(xiàn)非接觸、無損、高速、高精度的薄膜厚度測量。光學(xué)干涉測量法是一種使用分光光度計的光學(xué)系統(tǒng)獲得的反射率來確定光學(xué)膜厚的方法,如圖 2 所示。以涂在金屬基板上的薄膜為例,如圖1所示,從目標(biāo)樣品上方入射的光被薄膜表面(R1)反射。此外,穿過薄膜的光在基板(金屬)和薄膜界面(R2)處被反射。測量此時由于光程差引起的相移所引起的光學(xué)干涉現(xiàn)象,并根據(jù)得到的反射光譜和折射率計算膜厚的方法稱為光學(xué)干涉法。分析方法有四種:峰谷法、頻率分析法、非線性最小二乘法和優(yōu)化法。
規(guī)格
規(guī)格
類型 | 薄膜型 | 標(biāo)準(zhǔn)型 |
測量波長范圍 | 300-800nm | 450-780nm |
測量膜厚范圍 (SiO 2換算) | 3nm-35μm | 10nm-35μm |
光斑直徑 | φ3mm / φ1.2mm | |
樣本量 | φ200×5(高)mm | |
測量時間 | 0.1-10s內(nèi) | |
電源 | AC100V ± 10% 300VA | |
尺寸、重量 | 280 (W) x 570 (D) x 350 (H) 毫米,24 公斤 | |
其他 | 參考板,配方創(chuàng)建服務(wù) |
設(shè)備配置
光學(xué)家譜
軟件畫面
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