日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測量裝置-成都藤田科技提供
采用線掃描方式檢測整面薄膜硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援實(shí)現(xiàn)高精度測量實(shí)現(xiàn)高速測量不受偏差影響可對應(yīng)寬幅樣...

產(chǎn)品型號：

更新時(shí)間：2025-02-22

廠商性質(zhì)：代理商

訪問量：137

服務(wù)熱線

19938139269（馬經(jīng)理）

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

產(chǎn)品介紹

日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測量裝置-成都藤田科技提供

日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測量裝置

產(chǎn)品信息

特　點(diǎn)

使用光譜儀實(shí)現(xiàn)高精度測量

精度高的原因

● 使用高性能多通道光譜儀（型號：MCPD）對光譜進(jìn)行解析
● 可獲取較多的透過率信息實(shí)現(xiàn)高精度測量
(獲得的透射率信息約為 500 波長，是其他公司產(chǎn)品的約50 倍）。

日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測量裝置

超高相位差測量-超雙折射薄膜可高速、高精度測量

日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測量裝置

軸角度補(bǔ)正功能-即使樣品放置有偏離，也可輕松、再現(xiàn)性良好的進(jìn)行測量

日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測量裝置

便捷的軟件-極大縮短測量時(shí)間與處理時(shí)間，操作性大幅UP

日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測量裝置

產(chǎn)品規(guī)格

測量項(xiàng)目（薄膜、光學(xué)材料）	相位差（波長分散）、慢軸、RTH^1、3次元折射率1等
測量項(xiàng)目（偏光片）	吸收軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率等
測量項(xiàng)目（液晶cell）	cell gap、預(yù)傾角^*1 、扭曲角、配向角等
位相差測量范圍	0～60,000nm
相位差重復(fù)性	3σ≦0.08nm（水晶波長板約600nm）
cell gap 測量范圍	0～600μm（Δn=0.1時(shí)）
cell gap 重復(fù)性	3σ≦0.005μm（cell gap 約3μｍ、Δｎ＝0.1時(shí)）
軸檢測重復(fù)性	3σ≦0.08°（水晶波長板約600nm）
測量波長范圍	400～800nm（其他可選）
檢測器	多通道光譜儀
測量徑	φ2㎜(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格)
光源	100W　halogen lamp
數(shù)據(jù)處理部	個(gè)人計(jì)算機(jī)、顯示器
樣品臺尺寸:標(biāo)準(zhǔn)	100㎜×100㎜（固定樣品臺）
option	·超高相位差測量 ·多層測量 ·軸角度補(bǔ)正功能 · 自動(dòng)XY樣品臺·自動(dòng)傾斜旋轉(zhuǎn)樣品臺