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日本Otsuka大塚FFT膜厚解析嵌入式檢測(cè)儀-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特 長(zhǎng) 薄膜到厚膜的測(cè)量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測(cè)儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機(jī)種90%的強(qiáng)大功能 無(wú)復(fù)雜設(shè)定，操作簡(jiǎn)單，短時(shí)...

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日本Otsuka大塚ZETA粒徑測(cè)試系統(tǒng)ELSEneoSE-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對(duì)策和粒子對(duì)策，可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備 測(cè)量項(xiàng)目...

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日本Otsuka大塚ZETA分子量ELSZ-2000ZS測(cè)儀-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對(duì)應(yīng)各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對(duì)策和粒子對(duì)策，可對(duì)應(yīng)液晶line內(nèi)的檢查設(shè)備 測(cè)量項(xiàng)目...