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日本Otsuka大塚OPTM series嵌入分光膜厚儀成都藤田科技提供 用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn)，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測量等膜厚信息。...

日本Otsuka大塚RE-200高速相位差測量裝置-成都藤田科技提供 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 可測從0nm開始的低（殘留）相位差 光軸檢出同時(shí)可高速測量相位差(Re.) （相當(dāng)于世界快速的0.1秒以下來處理） 無驅(qū)動(dòng)部，重復(fù)再現(xiàn)性高 設(shè)置的測量項(xiàng)目少，測量簡單...

日本Otsuka大塚PP-1000薄膜小角激光散射儀-成都藤田科技提供 PP-1000小角激光散射儀，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡稱SALS），可以對高分子材料和薄膜進(jìn)行原位檢測，實(shí)時(shí)解析。與SAXS和SANS的裝置相比，檢測范圍更廣。利用偏光Hv散射測量可以進(jìn)行光學(xué)各向異性的評價(jià)，解析結(jié)晶性薄膜的球晶半徑，偏光Vv散射測量可以進(jìn)行聚合物混合的相

日本Otsuka大塚FE-5000橢偏儀可在紫外波長-成都藤田科技提供 采用線掃描方式檢測整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測定廠商，提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測量實(shí)現(xiàn)高速測量 不受偏差影響 可對應(yīng)寬幅樣...

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